Sidebar

 

Aprašymas: Atominės jėgos skenuojančios adatos mikroskopas su kompiuterine  valdymo ir vaizdų apdorojimo sistema. Bandinių laikiklis vakuuminis,  stebėjimo laukas nuo 200 mikronų iki 1400 mikronų. Skenerio maksimalus  XY diapazonas 90 mikronų, maksimalus Z diapazonas 10 mikronų.

Gali atlikti nanolitografiją ir nanomanipuliavimą, kontaktinį, tapšnojimo (tapping), fazių vaizdinimo (Phase imaging), šoninių (lateralinių)  jėgų (LFM), jėgos spektroskopijos, jėgos moduliavimo, elektros lauko  jėgos (EFM), Kelvino zondo jėgos, magnetinės jėgos (MFM), pjezoatsako  jėgos (PFM) režimus, taip pat yra elektrocheminių matavimų modulis.  Matavimai atliekami ore ir skystyje.

Pagrindinės taikymo sritys:atlikti kontroliuojamą paviršinę biomolekulių, ląstelių analizę nanolygmenyje, manipuliuoti atskiromis biomolekulėmis ir ląstelėmis bei tirti jų savybes.

https://www.bruker.com/products/surface-and-dimensional-analysis/atomic-force-microscopes/dimension-icon/overview.html

Įrangos naudojimo mokymai vietoje: galimi
Įranga gali naudotis tik kvalifikuoti specialistai: taip
Asmeninio asistento pagalba: yra 

VU ID:8042983
Patalpa: C462

Susisiekite su mokslininkais:

Dr. Marija Jankunec
+370 5 223 4400

 

8 Jankunec AFM dimensioncon

Siekdami užtikrinti jums teikiamų paslaugų kokybę, Universiteto tinklalapiuose naudojame slapukus. Tęsdami naršymą jūs sutinkate su Vilniaus universiteto slapukų politika. Daugiau informacijos