Sidebar

 

Aprašymas: Didelio greičio AFM sistema  SS-NEX (RIBM, Japonija): du skeneriai -  i) standartinis skeneris, skirtas greitai vaizdų analizei (pvz., fermentų reakcijoms),  ir skeneris struktūriniams baltymų pokyčiams fiksuoti.

Nuskaitymo greitis - 50 ms / kadras (20 kadrų / sek.), maksimalus nuskaitymo diapazonas - XY: 0,7 μm x 0,7 μm, Z: 0,4 μm. i) Platus skeneris dideliems mėginiams su dideliu nuskaitymo greičiu. Nuskaitymo greitis - 1 s / kadras (1 kadras / s), maksimalus nuskaitymo diapazonas - XY: 4 μm x 4 μm, Z: 0,7 μm.

https://www.ribm.co.jp/en/product/subssnexen

Įrangos naudojimo mokymai vietoje: galimi
Įranga gali naudotis tik kvalifikuoti specialistai: taip
Asmeninio asistento pagalba: yra 

VU ID:
Susisiekite su mokslininkais:

Dr. Marija Jankunec
+370 5 223 4400

 

7 Jankunec HS AFM high speed atomic force microscope SS NEX RIBM Japan

Siekdami užtikrinti jums teikiamų paslaugų kokybę, Universiteto tinklalapiuose naudojame slapukus. Tęsdami naršymą jūs sutinkate su Vilniaus universiteto slapukų politika. Daugiau informacijos